超聲波在硫化鎘單晶內之衰減

dc.contributor.author	王婉美	zh_tw
dc.date.accessioned	2014-10-27T15:23:20Z
dc.date.available	2014-10-27T15:23:20Z
dc.date.issued	1978-06-??	zh_TW
dc.description.abstract	利用動脈--回波之方法，可以量得超聲波在高純度壓電半導體硫化鎘內之衰減。測量溫度範圍為4.2°k ～300°k，聲波頻率範圍為10 ～70MHz。在低溫時(<60°k)，衰減隨溫度而改變，衰減高峰之是否存在視波傳播之方向和偏振之方向來決定，壓電耦合為在此溫度範圍之聲波衰減主因，聲聲子和熱聲子之作用，亦產生少部分之聲波衰減。在高溫時(>100°k)，衰減與溫度之變化無關，聲聲子和熱聲子之作用，成為聲波衰減之主因。	zh_tw
dc.identifier	2934E1BE-36E5-B7F8-8F57-0A6FD0E2B631	zh_TW
dc.identifier.uri	http://rportal.lib.ntnu.edu.tw/handle/20.500.12235/16995
dc.language	中文	zh_TW
dc.publisher	國立臺灣師範大學研究發展處	zh_tw
dc.publisher	Office of Research and Development	en_US
dc.relation	(23)，286-271	zh_TW
dc.relation.ispartof	師大學報	zh_tw
dc.subject.other	衰減	zh_tw
dc.subject.other	硫化鎘	zh_tw
dc.subject.other	單晶	zh_tw
dc.subject.other	超聲波	zh_tw
dc.title	超聲波在硫化鎘單晶內之衰減	zh-tw

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