超聲波在硫化鎘單晶內之衰減
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Date
1978-06-??
Authors
王婉美
Journal Title
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Volume Title
Publisher
國立臺灣師範大學研究發展處
Office of Research and Development
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Abstract
利用動脈--回波之方法，可以量得超聲波在高純度壓電半導體硫化鎘內之衰減。測量溫度範圍為4.2°k ～300°k，聲波頻率範圍為10 ～70MHz。在低溫時(<60°k)，衰減隨溫度而改變，衰減高峰之是否存在視波傳播之方向和偏振之方向來決定，壓電耦合為在此溫度範圍之聲波衰減主因，聲聲子和熱聲子之作用，亦產生少部分之聲波衰減。在高溫時(>100°k)，衰減與溫度之變化無關，聲聲子和熱聲子之作用，成為聲波衰減之主因。