智力測驗與資優兒童鑑別

dc.contributor.author何榮桂zh_tw
dc.date.accessioned2014-10-27T15:16:06Z
dc.date.available2014-10-27T15:16:06Z
dc.date.issued1981-11-??zh_TW
dc.description.abstract在資優兒童研究中,涉及智力測量主要採量的觀點,是以A.Binet、 G.E.Spearman等人為代表,以高智商為鑑別資優兒童的單一標準,後來 J.P.Guildford 提出三度層面的智力結構,導致了多重模式鑑別方式的發展。資 優兒童鑑別時所以有「假性資優」,其關鍵在於甄別的工具與程序,或者即 是所謂的低成就者。智力測驗雖是鑑別資優兒童的必要工具,但非絕對且唯 一的工具,不過在多重工具並行的原則下,智力測驗仍有其重要地位。zh_tw
dc.identifier70B5877D-2F59-47FB-C4D6-E3F8DB7C1B56zh_TW
dc.identifier.urihttp://rportal.lib.ntnu.edu.tw/handle/20.500.12235/13818
dc.language中文zh_TW
dc.publisher國立臺灣師範大學特殊教育中心zh_tw
dc.publisherNational Taiwan Normal University Special Education Centeren_US
dc.relation4,13-15zh_TW
dc.relation.ispartof資優教育季刊zh_tw
dc.subject.other兒童zh_tw
dc.subject.other智力測驗zh_tw
dc.subject.other資優zh_tw
dc.subject.other鑑別zh_tw
dc.title智力測驗與資優兒童鑑別zh-tw

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