智力測驗與資優兒童鑑別

Abstract

在資優兒童研究中，涉及智力測量主要採量的觀點，是以A.Binet、 G.E.Spearman等人為代表，以高智商為鑑別資優兒童的單一標準，後來 J.P.Guildford 提出三度層面的智力結構，導致了多重模式鑑別方式的發展。資 優兒童鑑別時所以有「假性資優」，其關鍵在於甄別的工具與程序，或者即 是所謂的低成就者。智力測驗雖是鑑別資優兒童的必要工具，但非絕對且唯 一的工具，不過在多重工具並行的原則下，智力測驗仍有其重要地位。