智力測驗與資優兒童鑑別

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Date

1981-11-??

Authors

何榮桂

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Publisher

國立臺灣師範大學特殊教育中心
National Taiwan Normal University Special Education Center

Abstract

在資優兒童研究中,涉及智力測量主要採量的觀點,是以A.Binet、 G.E.Spearman等人為代表,以高智商為鑑別資優兒童的單一標準,後來 J.P.Guildford 提出三度層面的智力結構,導致了多重模式鑑別方式的發展。資 優兒童鑑別時所以有「假性資優」,其關鍵在於甄別的工具與程序,或者即 是所謂的低成就者。智力測驗雖是鑑別資優兒童的必要工具,但非絕對且唯 一的工具,不過在多重工具並行的原則下,智力測驗仍有其重要地位。

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