半導體光電元件特性檢測
| dc.contributor | 陸健榮 | zh_TW |
| dc.contributor.author | 黃碩億 | zh_TW |
| dc.contributor.author | Huang Shuo-Yi | en_US |
| dc.date.accessioned | 2019-09-05T02:24:15Z | |
| dc.date.available | 2011-8-29 | |
| dc.date.available | 2019-09-05T02:24:15Z | |
| dc.date.issued | 2011 | |
| dc.description.abstract | 以研究半導體雷射(Laser diode, LD) 的各項物理特性為例子，把業界自動化的概念跟做法引進教學實驗中。首先藉由光導體(Photoconductor) 對於光的響應建立起一個量化光強度的基準，再以此基準探討雷射光的偏振性質，與雷射的內部量子效率。將建立基準的過程自動化縮短測量時間，並可得到更佳的基準關係。此外，也透過測量發光二極體(Light-emitting diode, LED) 的發光電壓，研究輸入LED的電能轉換成光能的比值，並與普朗克常數(Planck constant)做比較。 | zh_TW |
| dc.description.sponsorship | 物理學系 | zh_TW |
| dc.identifier | GN0697410418 | |
| dc.identifier.uri | http://etds.lib.ntnu.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi?o=dstdcdr&s=id=%22GN0697410418%22.&%22.id.& | |
| dc.identifier.uri | http://rportal.lib.ntnu.edu.tw:80/handle/20.500.12235/102740 | |
| dc.language | 中文 | |
| dc.subject | 自動化 | zh_TW |
| dc.subject | 雷射二極體 | zh_TW |
| dc.subject | 光導體 | zh_TW |
| dc.title | 半導體光電元件特性檢測 | zh_TW |
| dc.title | Characterization of Semiconductor Optoelectronic Devices | en_US |