半導體光電元件特性檢測

Abstract

以研究半導體雷射(Laser diode, LD) 的各項物理特性為例子，把業界自動化的概念跟做法引進教學實驗中。首先藉由光導體(Photoconductor) 對於光的響應建立起一個量化光強度的基準，再以此基準探討雷射光的偏振性質，與雷射的內部量子效率。將建立基準的過程自動化縮短測量時間，並可得到更佳的基準關係。此外，也透過測量發光二極體(Light-emitting diode, LED) 的發光電壓，研究輸入LED的電能轉換成光能的比值，並與普朗克常數(Planck constant)做比較。