高溫超導一階梯度計磁鬆弛系統的設計與製作

dc.contributor楊鴻昌 教授zh_TW
dc.contributor洪姮娥 教授zh_TW
dc.contributor.author楊富鈞zh_TW
dc.contributor.authorFU-CHUN, YANGen_US
dc.date.accessioned2019-09-04T01:28:33Z
dc.date.available不公開
dc.date.available2019-09-04T01:28:33Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstract本實驗主要是要架設可量測磁鬆弛訊號的磁鬆弛系統以及抗雜訊能力高的梯度計。此磁鬆弛系統的核心為杜瓦瓶,我們將梯度計放置於杜瓦瓶的真空夾層中,希望能以減少梯度計與樣品之間的距離而達到量測出更大的磁鬆弛訊號。 梯度計的設計方面,將梯度計的bare SQUID改為梯度線圈的樣式,期望梯度計有更高的抗雜訊能力;以及,將梯度計的pick-up coil改為washer-type,希望增加梯度計的Aeff,以提升梯度計的靈敏度。 樣品方面,首先選擇量測不同濃度的純磁流體,希望從中觀察出濃的磁流體相較於稀的磁流體有較強的磁鬆弛訊號以及較的relaxation time,並以此驗證所量測的訊號的真實性。接著量測anti-CRP和CRP混合後,由於抗原抗體的結合,使磁鬆弛訊號強度變強。zh_TW
dc.description.sponsorship光電科技研究所zh_TW
dc.identifierGN060048042S
dc.identifier.urihttp://etds.lib.ntnu.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi?o=dstdcdr&s=id=%22GN060048042S%22.&%22.id.&
dc.identifier.urihttp://rportal.lib.ntnu.edu.tw:80/handle/20.500.12235/98071
dc.language中文
dc.subject梯度計zh_TW
dc.subject磁鬆弛系統zh_TW
dc.subject磁流體zh_TW
dc.title高溫超導一階梯度計磁鬆弛系統的設計與製作zh_TW

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