物理學系

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本系師資陣容堅強,現有教授15人、副教授12人、助理教授2人、名譽教授5人,每年國科會補助之專題研究計畫超過廿個,補助之經費每年約三千萬,研究成果耀眼,發表於國際著名期刊(SCI)的論文數每年約70篇。

近年來已在課程方面 著手變革,因應學子的各種不同的生涯規劃與需求,加強職業輔導與專業能力的提升,增加高科技相關課程,提供光電學程(光電半導體、半導體製程技術、近代光 學與光電科技等)、凝態物理、表面物理與奈米科技、高能與理論物理、生物物理、應用物理等研究發展專業人才,並配合博士逕讀辦法,讓大學部學生最快能在五 年內取的碩士(透過碩士班先修生),八年內取得博士,有助於提升本系基礎與應用研發能量,為各學術研究機構與業界高科技創新與研發人力(包括在光電業、半 導體製造業、電腦週邊產業等)。

本系亦推動網路教學(科學園)與數位科學研究,作為提供科學教學與學習系統平台的強化支援,並除了原先開設的教育學程外,多增強學生英語教學的能力,與世界科學教師系統連結,在教師從業方面,塑造世界級的物理科學教師,發揮教育影響力。

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    利用掃瞄探針顯微鏡探測鈷、鎳及鈷鎳複合奈米粒子
    (2009) 許靜淑; Shiu jing-shu
    摘要 本實驗目的在利用原子力顯微鏡(Atomic force Microscopy,AFM)及磁力顯微鏡(Magnetic force Microscopy,MFM)掃瞄Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子的表面形貌與磁區觀察; Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子由台北科技大學所研發的改良式真空潛弧法(Arc-Submerged Nanoparticle Synthesis System,ASNSS)製備,並經由乙二醇溶液保存著。筆者採取兩種不同的外加磁場方法,觀察奈米粒子在不同外加磁場方法下的AFM與MFM之表面形貌與磁區變化行為;接著利用原子力顯微鏡與磁力顯微鏡本身內建軟體,分析奈米粒子的Contrast difference of MFM signal。 利用磁力顯微鏡大氣系統在觀測上的優勢是:易於操作(不需抽真空)、解析度高,可看到樣品的表面形貌與最想觀測的磁區變化,搭配分析軟體可做Contrast difference of MFM signal的測量,並繼續利用Origin軟體作圖分析……等等。但是缺點在於真空度不佳,對於樣品表面的乾淨度不易維持,所以欲達到原子層級解析有困難,並且MFM的磁針只有三個月的壽命,必須趁探針尚有磁性的時候趕快測量,否則時間一過,就沒辦法量測出MFM圖形。另外,在掃MFM時容易遇到MFM模式常常掃不到磁區的情況,原因歸於有時候樣品的磁性變化不是那麼明顯,或是探針的磁性已經消磁等等。這是做實驗上遇到的最大困難度。此外,實驗上做Hemholtz線圈邊加磁場邊掃會容易受到磁場history的影響,也是實驗上會遇到的問題。 實驗結果顯示,排除MFM有時候不能掃到理想磁區的限制之外,磁力顯微鏡協助我們觀察Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子在不同外加磁場方式下所呈現的結果,的確對我們不同的樣品量測MFM的優良與否判斷有其貢獻。結果發現,Co奈米粒子的MFM磁區最容易觀察,反之,Co+Ni奈米粒子最不容易觀察,Ni奈米粒子居於中間。