Browsing by Author "Shiu jing-shu"

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    利用掃瞄探針顯微鏡探測鈷、鎳及鈷鎳複合奈米粒子
    (2009) 許靜淑; Shiu jing-shu
    摘要 本實驗目的在利用原子力顯微鏡(Atomic force Microscopy，AFM)及磁力顯微鏡(Magnetic force Microscopy，MFM)掃瞄Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子的表面形貌與磁區觀察; Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子由台北科技大學所研發的改良式真空潛弧法(Arc-Submerged Nanoparticle Synthesis System，ASNSS)製備，並經由乙二醇溶液保存著。筆者採取兩種不同的外加磁場方法，觀察奈米粒子在不同外加磁場方法下的AFM與MFM之表面形貌與磁區變化行為;接著利用原子力顯微鏡與磁力顯微鏡本身內建軟體，分析奈米粒子的Contrast difference of MFM signal。 利用磁力顯微鏡大氣系統在觀測上的優勢是:易於操作(不需抽真空)、解析度高，可看到樣品的表面形貌與最想觀測的磁區變化，搭配分析軟體可做Contrast difference of MFM signal的測量，並繼續利用Origin軟體作圖分析……等等。但是缺點在於真空度不佳，對於樣品表面的乾淨度不易維持，所以欲達到原子層級解析有困難，並且MFM的磁針只有三個月的壽命，必須趁探針尚有磁性的時候趕快測量，否則時間一過，就沒辦法量測出MFM圖形。另外，在掃MFM時容易遇到MFM模式常常掃不到磁區的情況，原因歸於有時候樣品的磁性變化不是那麼明顯，或是探針的磁性已經消磁等等。這是做實驗上遇到的最大困難度。此外，實驗上做Hemholtz線圈邊加磁場邊掃會容易受到磁場history的影響，也是實驗上會遇到的問題。 實驗結果顯示，排除MFM有時候不能掃到理想磁區的限制之外，磁力顯微鏡協助我們觀察Co、Ni及Co+Ni複合體奈米粒子在不同外加磁場方式下所呈現的結果，的確對我們不同的樣品量測MFM的優良與否判斷有其貢獻。結果發現，Co奈米粒子的MFM磁區最容易觀察，反之，Co+Ni奈米粒子最不容易觀察，Ni奈米粒子居於中間。