Browsing by Author "Ching-Wei Lin"

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    碳六十終端分子自組裝在二氧化矽表面的製備與鑑定
    (2009) 林靖衛; Ching-Wei Lin
    分子自組裝技術(SAM)廣泛的應用於科學領域中，現今的有機場效電晶體廣泛的應用了分子自組裝技術，其中包括了絕緣層、功函數的調控以及分子自組裝場效電晶體等等。 在本研究主題中，我們經由少數化學修飾的步驟，成功的製造了高品質並以碳六十為終端的單層分子自組裝。表面的化學組成由X光光電子能譜儀來鑑定。而單層分子的品質，由原子力顯微鏡、接觸角量測、橢圓儀以及X光反射率來確認。 以碳六十為終端的單層分子自組裝由下列的幾個步驟完成：首先，將終端為溴的分子(ω-BHTS)自組裝到矽晶圓表面、將終端溴取代成疊氮以及碳六十稼接到疊氮形成aziridine。選擇十七個亞甲基團(methylene group)是為了能夠與OTS做比較。 最後，我們利用熱蒸鍍法將碳六十蒸鍍到下列製備的表面：乾淨的二氧化矽表面、氧電漿處理的二氧化矽表面、甲基團終端的分子自組裝、疊氮基團終端的分子自組裝以及碳六十基團終端的分子自組裝。經由改變表面的狀態，使得控制表面能變成可能。不同的成長機制，包括Volmer—Weber、Stranski—Krastanov 以及Frank—van-der-Merwe成長，都可分別在這些不同的表面中觀察的到。我們接著提出了碳六十分子在這些不同表面能的表面中，不同成長的機制。